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GH-200日本AND分析天平有單鍵自動外校，操作簡單方便，可輸入修正后的校準(zhǔn)砝碼值,確保校準(zhǔn)精度。

CH-300日本AND分析天平主要應(yīng)用于化工、藥業(yè)、院校等實驗研究等。多種稱重單位：g,mg,oz,ozt,ct,dwt,GN,tl等稱重單位及記數(shù)，百分比功能，適應(yīng)不同計量標(biāo)準(zhǔn)及應(yīng)用要求。

GH-202日本AND分析天平具有內(nèi)部校準(zhǔn)砝碼,單鍵自動自校準(zhǔn)；自動溫度檢測功能,當(dāng)環(huán)境溫度變化時自動自校準(zhǔn),校準(zhǔn)方便快捷,確保計量精度。

GH-252日本AND分析天平精度為 0.01mg/0.1mg雙量程專業(yè)型分析天平 ,內(nèi)置自動校準(zhǔn)砝碼，單鍵全自動校準(zhǔn)，能自動環(huán)境修正,標(biāo)準(zhǔn)計算機接口，自帶日歷功能,符合GLP及GMP標(biāo)準(zhǔn)。

日本AND分析天平BM-5D追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風(fēng)電離器和導(dǎo)電涂層的防風(fēng)玻璃，解決靜電產(chǎn)生的問題。BM-5D是雙量程微量分析天平，精度可達0.001mg，重復(fù)性0.004mg，穩(wěn)定時間約10S。

超微量分析天平BM-5追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風(fēng)電離器和導(dǎo)電涂層的防風(fēng)玻璃，解決靜電產(chǎn)生的問題。BM-5是微量分析天平，精度可達0.001mg，重復(fù)性0.0012mg，穩(wěn)定時間約10S。

日本AND微量分析天平BM-20追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風(fēng)電離器和導(dǎo)電涂層的防風(fēng)玻璃，解決靜電產(chǎn)生的問題。BM-20是高精度微量分析天平，精度可達0.001mg，重復(fù)性0.0025mg，穩(wěn)定時間約10S。

日本AND自動微量分析天平BM-22追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風(fēng)電離器和導(dǎo)電涂層的防風(fēng)玻璃，解決靜電產(chǎn)生的問題。BM-22是雙量程微量分析天平，精度可達0.001mg，重復(fù)性0.004mg，穩(wěn)定時間約10S。

日本AND分析天平追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風(fēng)電離器和導(dǎo)電涂層的防風(fēng)玻璃，解決靜電產(chǎn)生的問題。BM-22是雙量程微量分析天平，精度可達0.001mg，重復(fù)性0.004mg，穩(wěn)定時間約10S。

BM 自動超微量分析天平追求高精度計量：最高精度可達2500萬分之一，采用無風(fēng)電離器和導(dǎo)電涂層的防風(fēng)玻璃，解決靜電產(chǎn)生的問題。BM-20是微量分析天平，精度可達0.001mg，重復(fù)性0.0025mg，穩(wěn)定時間約10S。